Инженеры НИТУ «МИСиС» разработали новый сканирующий магнитный микроскоп
Лабораторный макет сканирующего магнитного микроскопа на основе нового датчика представили ученые НИТУ «МИСиС». По словам авторов, с помощью такого устройства можно получать изображения локальных магнитных полей вблизи поверхности исследуемых объектов. Преимущества ноогво устройства — неинвазивность (малое влияние на исследуемый объект), высокое разрешение в сочетании с хорошей магнитной чувствительностью и простота конструкции. Результаты работы опубликованы в журнале Journal of Magnetism and Magnetic Materials.
