Ученые из Всероссийского НИИ автоматики имени Н. Л. Духова и Университета МИСИС предложили прогнозировать возникновение дефектов в материалах ядерных реакторов с помощью новой модели на основе искусственной нейронной сети. Результаты полезны для создания материалов, устойчивых к облучению в течении длительного срока службы.
Выступление ректора МИСИС Алевтины Черниковой на Конференции работников и обучающихся
В МИСИС обсудили ключевые задачи молодёжной политики в вузах
Студенты МИСИС поздравляют первокурсников со сцены
Процедура голосования за новых членов Ученого совета МИСИС